当社では、無電解めっきのパイオニア企業として半世紀余の歴史の中で培った技術をベースに、表面処理分野に関する新たなシーズを創出し、多種多様な市場ニーズに応えるべく、技術開発力の更なる強化に取り組んでいます。
高度な解析機能
表面処理という学際領域には多角的な解析が求められます。
当社では様々な分析機器を保有し、めっき液・めっき皮膜に対して高度な解析を行っています。
- 原子吸光分析装置 及び ICP発光分析装置
- めっき液中の微量金属元素の検出が可能なため、めっき液中の不純物同定などに使用しています。
- キャピラリー電気泳動装置
- めっき液中には様々な機能を持つ有機物が含まれています。有機物成分を分析することにより、めっき液中での反応挙動を解析する手掛かりとなります。
- 蛍光X線法膜厚測定装置
- めっき皮膜の膜厚を蛍光X線法により測定します。非破壊分析なのでめっき後の品物を加工せずにそのまま測定することが可能です。
- 走査型電子顕微鏡/EDS
- 析出しためっき皮膜の微細構造と皮膜中の元素分析を行います。構造と含有元素を同時に観測することが可能です。
- X線回析装置
- 皮膜の結晶構造、生成相を調査することが可能です。例えば皮膜の成長機構などを解析する際に威力を発揮します。